H17 半金属及半导体材料分析方法
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB53/T 749-2016 | 工业硅粉水分的测定 红外加热法 | 已废止 | 2016-03-10 | 2016-06-01 |
| DB53/T 796-2016 | 富锡渣中铟含量的测定 原子吸收光谱法 | 已废止 | 2016-09-10 | 2016-12-01 |
| DB15/T 1243-2017 | 树脂中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 已废止 | 2017-09-10 | 2017-12-10 |
| DB15/T 1240-2017 | 硅粉中铁、铝、钙、钛、硼、磷含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 已废止 | 2017-09-10 | 2017-12-10 |
| DB15/T 1239-2017 | 多晶硅生产净化氢气用活性炭中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 已废止 | 2017-09-10 | 2017-12-10 |
| DB15/T 1241-2017 | 硅烷法生产多晶硅尾气中硅烷含量的测定 气相色谱法 | 已废止 | 2017-09-10 | 2017-12-10 |
| DB15/T 1242-2017 | 氯硅烷中六氯硅氧烷含量的测定 气相色谱—质谱法 | 已废止 | 2017-09-10 | 2017-12-10 |
| GB/T 34504-2017 | 蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法 | 已废止 | 2017-10-14 | 2018-05-01 |
| GB/T 35306-2017 | 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 | 已废止 | 2017-12-29 | 2018-07-01 |