H17 半金属及半导体材料分析方法
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 1864-2026 | 流化床法颗粒硅表面金属含量的测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2026-04-15 | 2026-11-01 |
| YS/T 1863.2-2026 | 硅多晶用硅粉理化性能的测定 第2部分： 浊度的测定 散射光法 | 现行 | 2026-04-15 | 2026-11-01 |
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 1864-2026 | 流化床法颗粒硅表面金属含量的测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2026-04-15 | 2026-11-01 |
| YS/T 1863.2-2026 | 硅多晶用硅粉理化性能的测定 第2部分： 浊度的测定 散射光法 | 现行 | 2026-04-15 | 2026-11-01 |