H80 半金属与半导体材料综合
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 679-2008 | 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 | 已废止 | 2008-03-12 | 2008-09-01 |
| SN/T 0550.1-1996 | 出口金属硅中铁、铝、钙的测定分光光度法 | 现行 | 1996-07-10 | 1996-12-01 |
| SN/T 0550.2-1996 | 出口金属硅中铁、铝、钙的测定容量法 | 现行 | 1996-07-10 | 1996-12-01 |
| GB/T 14844-1993 | 半导体材料牌号表示方法 | 已废止 | 1993-12-30 | 1994-09-01 |
| GB/T 14264-1993 | 半导体材料术语 | 已废止 | 1993-03-20 | 1993-12-01 |
| YS/T 23-1992 | 硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法 | 已废止 | 1992-03-09 | 1993-01-01 |
| YS/T 24-1992 | 外延钉缺陷的检验方法 | 已废止 | 1992-03-09 | 1993-01-01 |