| GB/T 11313.15-2018 | 射频连接器 第15部分：外导体内径为4.13mm(0.163in)、特性阻抗为50Ω、螺纹连接的射频同轴连接器(SMA型) | 现行 | 2018-03-15 | 2018-10-01 |
| GB/T 11313.39-2018 | 射频连接器 第39部分：CQM系列快速锁紧射频连接器分规范 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-10-01 |
| GB/T 11313.38-2018 | 射频连接器 第38部分：50Ω背板和面板用模块滑入式射频连接器(/TMA型)分规范 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| GB/T 11313.11-2018 | 射频连接器 第11部分：外导体内径为9.5mm(0.374in)、特性阻抗为50Ω、螺纹连接的射频同轴连接器(4.1/9.5型)分规范 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-01-01 |
| GB/T 11313.43-2018 | 射频连接器 第43部分：RBMA系列盲配射频同轴连接器分规范 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-01-01 |
| GB/T 11313.13-2018 | 射频连接器 第13部分：1.65.6和1.85.6型射频同轴连接器分规范 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-01-01 |
| T/ZZB 0678-2018 | TJC201型绝缘位移阴接触件连接器 | 现行 | 2018-10-26 | 2018-11-30 |
| GB/T 17570-2019 | 光纤熔接机通用规范 | 现行 | 2019-08-30 | 2020-03-01 |
| GB/T 5095.2506-2020 | 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f:眼图和抖动 | 现行 | 2020-04-28 | 2020-11-01 |
| GB/T 5095.2509-2020 | 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验试验25i:外来串扰 | 现行 | 2020-04-28 | 2020-11-01 |
| T/ZZB 1851-2020 | VH条形连接器 | 现行 | 2020-11-16 | 2020-11-30 |
| T/ZZB 1911-2020 | 电子产品用3.5 mm音频同轴固定连接器 | 现行 | 2020-11-20 | 2020-12-01 |
| GB/T 5095.2504-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2304-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2503-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2303-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分：屏蔽和滤波试验 试验23c：连接器和附件的屏蔽效果 线注入法 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2502-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗） | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2307-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2501-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2507-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR） | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |