L41 半导体二极管
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB52/T 861-2013 | 2CB003 型硅雪崩整流二极管详细规范 | 已废止 | 2013-12-06 | 2014-02-01 |
| SJ/T 11767-2020 | 二极管低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11845.3-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分：二极管 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 12069-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅二极管电参数测试方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 12071-2025 | 半导体器件 分立器件碳化硅二极管门类规范 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 12070-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅二极管可靠性试验方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| GB/T 4023.3-2026 | 半导体分立器件 第3部分：信号、开关和调整二极管 | 现行 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 4023.2-2026 | 半导体分立器件 第2部分：整流二极管 | 即将实施 | 2026-09-28 | 2027-04-01 |