L41 半导体二极管

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
SJ/T 10063-1991	BT62型硅PIN开关二极管	现行	1991-04-08	1991-07-01
SJ/T 10066-1991	电子元器件详细规范 BT 37型PN硅单结晶体管（可供认证用）	现行	1991-04-08	1991-07-01
SJ/T 10065-1991	BT33型PN硅单结晶体管详细规范	现行	1991-04-08	1991-07-01
SJ/T 10062-1991	电子元器件详细规范 PIN40A,PIN40B和PIN40C型硅微带 PIN开关二极管	现行	1991-04-08	1991-07-01
SJ/T 10064-1991	BT32型PN硅单结晶体管详细规范	现行	1991-04-08	1991-07-01
SJ/T 10061-1991	电子元器件详细规范 2CV3A,2CV3B和2CV3G型硅肖特基势垒混频二极管	现行	1991-04-08	1991-07-01
SJ/T 10954-1996	电子元器件详细规范 ZCK120型硅开关二极管(可供认证用)	现行	1996-11-20	1988-12-01
GB/T 6588-2000	半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管第1篇信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范	现行	2000-10-17	2001-10-01
GB/T 6589-2002	半导体器件分立器件第3-2部分：信号(包括开关)和调整二极管电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范	现行	2002-12-04	2003-05-01
GB/T 21039.1-2007	半导体器件分立器件第4-1部分：微波二极管和晶体管微波场效应晶体管空白详细规范	现行	2007-06-29	2007-11-01
SJ/T 11767-2020	二极管低频噪声参数测试方法	现行	2020-12-09	2021-04-01
SJ/T 11845.3-2022	基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第3部分：二极管	现行	2022-10-20	2023-01-01
SJ/T 12069-2025	半导体器件分立器件碳化硅二极管电参数测试方法	现行	2025-12-19	2026-07-01
SJ/T 12071-2025	半导体器件分立器件碳化硅二极管门类规范	现行	2025-12-19	2026-07-01
SJ/T 12070-2025	半导体器件分立器件碳化硅二极管可靠性试验方法	现行	2025-12-19	2026-07-01
GB/T 4023.3-2026	半导体分立器件第3部分：信号、开关和调整二极管	现行	2026-04-30	2026-11-01