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L50 光电子器件综合

收录 122 项
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 18310.22-2003纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-22部分:试验-温度变化现行2003-11-242004-08-01
GB/T 18310.9-2003纤维光学互连器件和无源器件-基本试验和测量程序 第2-9部分试验-冲击现行2003-11-242004-08-01
GB/T 15651.2-2003半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性现行2003-11-242004-08-01
GB/T 18310.11-2003纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-11部分:试验 轴向挤压已废止2003-11-242004-08-01
SJ 20869-2003铌酸锂集成光学波导调制器测试方法现行2003-12-152004-03-01
SJ 20957-2006大功率半导体激光二极管阵列通用规范现行2006-08-072006-12-30
GB/T 18311.20-2007纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-20部分:检查和测量 纤维光学分路器件的方向性现行2007-06-292007-11-01
GB/T 18310.48-2007纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-48部分:试验 温度湿度循环现行2007-06-292007-11-01
GB/T 18311.26-2007纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-26部分:检查和测量 光纤和插针轴线间的角偏差的测量现行2007-06-292007-11-01
GB/T 18311.30-2007纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-30部分:检查和测量 单套管多芯光纤连接器抛光角度和光纤位置现行2007-06-292007-11-01
GB/T 21022.1-2007纤维光学连接器接口 第1部分:总则和导则现行2007-06-292007-11-01
GB/T 18311.28-2007纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-28部分:检查和测量 瞬间损耗现行2007-06-292007-11-01
GB/T 18311.16-2007纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-16部分:检查和测量 球面抛光套管端面半径已废止2007-06-292007-11-01
GB/T 18311.31-2007纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-31部分:检查和测量 纤维光学光源耦合功率比测量已废止2007-06-292007-11-01
SJ 20986-2008体波声光器件通用规范现行2008-04-152008-06-30
SJ/T 11395-2009半导体照明术语现行2009-11-172010-01-01
SJ/T 11405-2009光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法现行2009-11-172010-01-01
DB22/T 1949-2013光电编码器 术语和分类已废止2013-12-042013-12-31
DB22/T 1950-2013光电编码器 型号编制原则及方法已废止2013-12-042013-12-31
DB22/T 1925-2013光电编码器 通用技术条件已废止2013-12-042013-12-31

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