17.180 光学和光学测量
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JB/T 8226.5-1999 | 光学零件镀膜 中性滤光膜 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9333-1999 | 显微镜 光学显微术通用浸油 | 已废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9337-1999 | 大地测量仪器 三脚架 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9343-1999 | 分格值为1′的光学测角比较仪 | 已废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 8226.4-1999 | 光学零件镀膜 内反射膜 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 8226.2-1999 | 光学零件镀膜 水解法镀双层减反射膜 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9326-1999 | 激光喇曼分光光度计 | 已废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 8226.7-1999 | 光学零件镀膜 分束膜 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9459-1999 | 暗筒式日照计 技术条件 | 已废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9327-1999 | 白度计 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 8232-1999 | 自准直仪 | 已废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9349-1999 | 工具显微镜用测量刀 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9340-1999 | 光切显微镜 | 已废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.7-1999 | 光学晶体光学均匀性 测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9328-1999 | 分辨力板 | 已废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 8226.8-1999 | 光学零件镀膜 截止滤光膜 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 8237-1999 | 直角棱镜 | 已废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.3-1999 | 光学晶体透过率 测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 8226.1-1999 | 光学零件镀膜 减反射膜 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.2-1999 | 光学晶体折射率 测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |