29.045 半导体材料
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 24-1992 | 外延钉缺陷的检验方法 | 已废止 | 1992-03-09 | 1993-01-01 |
| YS/T 26-1992 | 硅片边缘轮郭检验方法 | 已废止 | 1992-03-09 | 1993-01-01 |
| YS/T 28-1992 | 硅片包装 | 已废止 | 1992-03-09 | 1993-01-01 |
| YS/T 15-1991 | 硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法 | 已废止 | 1991-04-26 | 1992-06-01 |