29.100.01 电气设备元件综合
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 18858.2-2002 | 低压开关设备和控制设备控制器－设备接口(CDI)第2部分：执行器传感器接口(AS-i) | 已废止 | 2002-10-08 | 2003-04-01 |
| JB/T 4219-1999 | 电力半导体器件测试设备 型号命名方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 4107.5-1999 | 电触头材料化学分析方法银镍中镍含量的测定（ETDA容量法） | 已废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 4107.1-1999 | 电触头材料化学分析方法总则及一般规定 | 已废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 4107.4-1999 | 电触头材料化学分析方法银钨中银含量的测定（碘量法） | 已废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 4107.2-1999 | 电触头材料化学分析方法 铜钨中铜含量的测定（碘量法） | 已废止 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |