声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications―Specifications and measuring methods

GB/T 30118-2013现行国家标准

标准状态

发布于：2013-12-17

实施于：2014-05-15

废止

标准号GB/T 30118-2013

标准状态现行

发布日期2013-12-17

实施日期2014-05-15

中国标准分类号L21 石英晶体、压电元件

国际标准分类号31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位中国电子科技集团公司第二十六研究所、北京石晶光电科技有限公司、中国电子科技集团德清华莹电子有限公司

起草人张小梅、蒋春键、赵雄章、周洋舟、吴兆刚、吴剑波

本标准规定了人造石英、铌酸锂(LN)、钽酸锂(LT)、四硼酸锂(LBO)和硅酸鎵镧(LGS)等单晶晶片等。本标准适用于人造石英、铌酸锂(LN),钽酸锂(LT)、四硼酸锂(LBO)和硅酸鎵镧(LGS)等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)滤波器和谐振器等基片材料。