半导体器件直流和低频参数测试设备校准规范

Calibration Specification for Semiconductor Devices DC and Low Frequency Parameters Test Equipments

JJF 1895-2021现行计量规范

标准状态

发布于：2021-02-23

实施于：2021-08-23

废止

标准号JJF 1895-2021

标准状态现行

发布日期2021-02-23

实施日期2021-08-23

发布部门国家市场监督管理总局

技术归口全国无线电计量技术委员会

代替标准JJG 725-1991

起草单位中国电子技术标准化研究院

起草人刘冲、李洁、张珊

本规范适用于半导体器件直流和低频参数测试设备的校准。半导体器件直流和低频参数测试设备 (以下简称被校设备)由偏置电压源、偏置电流源、电压测量单元、电流测量单元、低频信号源等组成，主要用于各类半导体器件直流参数、低频参数的测试。