氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第10部分：X射线荧光光谱分析法测定硫含量
标准状态
发布于：2006-03-07
实施于：2006-08-01
已废止
基本信息
YS/T 581.10-2006
已废止
2006-03-07
2006-08-01
国家发展和改革委员会
全国有色金属标准化技术委员会
抚顺铝厂、中国有色金属工业标准计量质量研究所
张爱芬、马慧侠
标准简介
本部分规定了氟化铝中硫含量（以硫酸根表示）的测定方法。本部分适用于氟化铝中硫含量的测定。测定范围：0.01%～2.00%。
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