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硅退火片规范

Specification for silicon annealed wafers

GB/T 26069-2010已废止国家标准

标准状态

发布于:2011-01-10
实施于:2011-10-01
已废止

基本信息

GB/T 26069-2010
已废止
2011-01-10
2011-10-01
29.045 半导体材料
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
万向硅峰电子股份有限公司、宁波立立电子股份有限公司和杭州海纳半导体有限公司、有研半导体材料股份公司
楼春兰、孙燕、王飞尧、黄笑容、朱兴萍、宫龙飞、方强

标准简介

本标准规定了半导体器件和集成电路制造用硅退火抛光片的要求、试验方法、检验规则等。 本标准适用于线宽l80nm、130nm和90nm:工艺退火硅片。

内容预览

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