砷化镓单晶位错密度的测试方法
Test method for dislocation density of monocrystal gallium arsenide
标准状态
发布于:2020-09-29
实施于:2021-08-01
废止
基本信息
GB/T 8760-2020
现行
2020-09-29
2021-08-01
国家标准委
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
GB/T 8760-2006
有研光电新材料有限责任公司、国合通用测试评价认证股份公司、广东先导稀材股份有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、中国电子科技集团第四十六研究所、雅波拓(福建)新材料有限公司
赵敬平、林泉、刘淑凤、姚康、马英俊、王彤涵、陈晶晶、付萍、于洪国、惠峰、许所成、许兴、赵素晓、韦圣林
标准简介
本标准规定了砷化镓单晶位错密度的测试方法。 本标准适用于{100}、{111}面砷化镓单晶位错密度的测试,测试范围为0cm-2~100000cm-2。