微束分析分析电子显微术金属薄晶体试样中位错密度的测定方法

Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurement of the dislocation density in thin metals

GB/T 43088-2023现行国家标准

标准状态

发布于：2023-09-07

实施于：2024-04-01

废止

标准号GB/T 43088-2023

标准状态现行

发布日期2023-09-07

实施日期2024-04-01

中国标准分类号G04 基础标准与通用方法

国际标准分类号71.040.50 物理化学分析方法

主管部门国家标准委

发布部门国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

技术归口国家标准委

提出单位全国微束分析标准化技术委员会

起草单位首钢集团有限公司、国标（北京）检验认证有限公司

起草人孟杨、鞠新华、马通达、崔桂彬、王泽鹏、王雅晴、朱国森、付新、史学星、闫贺、严春莲

本文件规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。本文件适用于测定晶粒内不高于1X1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。