晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测
C-Si photovoltaic(PV) modules—Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test—Detection
标准状态
发布于：2026-01-04
实施于：2026-01-26
废止
基本信息
GB/Z 119-2026
现行
2026-01-04
2026-01-26
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会