介电晶体介电性能的试验方法
Test method for dielectric properties of dielectric crystal
标准状态
发布于：1997-05-28
实施于：1998-02-01
废止
基本信息
GB/T 16822-1997
现行
1997-05-28
1998-02-01
工业和信息化部（电子）
国家技术监督局
工业和信息化部（电子）
中国科学院物理研究所
标准简介
本标准规定了介电晶体的低频（10MHz以下）介电系数及介电损耗的试验方法。 本标准适用于介电晶体的介电性能的测定。
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