光学系统波前像差的测定 夏克-哈特曼光电测量法
Determination of wavefront aberration in optical systems—Electro-optical Shack-Hartmann method
标准状态
发布于：2024-07-24
实施于：2025-02-01
废止
基本信息
GB/T 44221-2024
现行
2024-07-24
2025-02-01
中国科学院
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
中国科学院
中国科学院
中国科学院苏州生物医学工程技术研究所、中国标准化研究院、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国计量科学研究院、浙江舜宇光学有限公司、苏州一光仪器有限公司、中国科学院光电技术研究所、中国科学院空天信息创新研究院、苏州慧利仪器有限责任公司、长春奥普光电技术股份有限公司、成都科奥达光电技术有限公司、舟山市质量技术监督检测研究院
史国华、邢利娜、蔡建奇、王璞、洪宝玉、冯长有、谢桂华、伍开军、何益、杨金生、刘春雨、韩森、包明帝、叶虹、沈晨雁、郝华东
标准简介
本文件描述了采用夏克一哈特曼法测量光学系统波前像差的原理及方法、测量条件、设备及装置、测量步骤以及测量数据处理。 本文件适用于采用夏克一哈特曼法测量光学系统波前像差的测量，也适用于光学零件面形偏差的测量。
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