一维纳米材料的基本结构高分辨透射电子显微镜检测方法

Fundamental structures of one dimensional nanomaterials - High resolution electron microscopy characterization

GB/Z 21738-2008现行国家标准

标准状态

发布于：2008-05-08

实施于：2008-11-01

废止

标准号GB/Z 21738-2008

标准状态现行

发布日期2008-05-08

实施日期2008-11-01

中国标准分类号N30 光学仪器综合

国际标准分类号17.180.01 光学和光学测量综合

主管部门中国科学院

发布部门国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口中国科学院

起草单位中国科学院物理研究所

起草人李建奇

本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理，术语和定义，仪器和设备，样品制备，测量程序，结果表示以及试验报告等。本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构，元素组分，截面及界面原子排布等。