光栅角位移测量系统
标准状态
发布于：2012-05-24
实施于：2012-11-01
废止
基本信息
JB/T 10034-2012
现行
2012-05-24
2012-11-01
工业和信息化部
全国量具量仪标准化技术委员会
JB/T 10034-1999
四川科奥达技术有限公司、中国科学院光电技术研究所等
谢拉堂、曹学东 等
标准简介
本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。本标准适用于分辨力为0.1″、0.2″、0.5″、1″、2″、5″和10″，准确度等级为±0.25″级、±0.5″级、±1″级、±2″级、±5″级、±10″级和±20″级的光栅角位移测量系统。
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