微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
标准状态
发布于：2021-12-31
实施于：2022-07-01
废止
基本信息
GB/T 20724-2021
现行
2021-12-31
2022-07-01
国家标准委
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
GB/T 20724-2006
北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院
柳得橹、娄艳芝
标准简介
本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。 本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。
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