纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法
Nanotechnologies—Electron microscopy imaging of noble metal nanoparticles—High angle annular dark field imaging method
标准状态
发布于：2017-11-01
实施于：2018-05-01
废止
基本信息
GB/T 34831-2017
现行
2017-11-01
2018-05-01
中国科学院
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
中国科学院
国家纳米科学中心、北京粉体技术协会
齐笑迎、常怀秋、高原、朱晓阳、贺蒙
标准简介
本标准规定了采用电子显微镜高角环形暗场成像技术对贵金属纳米颗粒成像的方法。 本标准适用于单一贵金属纳米颗粒和复合材料中贵金属纳米颗粒的成像。
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