微束分析 扫描电镜图像放大倍率校准导则
Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification
标准状态
发布于：2020-06-02
实施于：2021-05-01
废止
基本信息
GB/T 27788-2020
现行
2020-06-02
2021-05-01
国家标准委
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
GB/T 27788-2011
中国地质科学院矿产资源研究所、中国人民解放军海军军医大学、中国科学院上海硅酸盐研究所
陈振宇、周剑雄、李香庭、杨勇骥
标准简介
本标准规定了使用适当的参考物质对扫描电镜（SEM）图像的放大倍率进行校准的方法。 本标准适用于对由校准参考物质上间距大小的可用范围决定的放大倍率进行校准。 本标准不适用于专用测长型扫描电镜。
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