锗单晶位错密度的测试方法

Test method for dislocation density of monocrystal germanium

GB/T 5252-2020现行国家标准

标准状态

发布于：2020-06-02

实施于：2021-05-01

废止

标准号GB/T 5252-2020

标准状态现行

发布日期2020-06-02

实施日期2021-05-01

中国标准分类号H21 金属物理性能试验方法

国际标准分类号77.040 金属材料试验

主管部门国家标准委

发布部门国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口国家标准委

代替标准GB/T 5252-2006

起草单位有研光电新材料有限责任公司、国合通用测试评价认证股份公司、中国电子科技集团公司第四十六研究所、中锗科技有限公司、北京国晶辉红外光学科技有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、广东先导稀材股份有限公司、义乌力迈新材料有限公司

起草人张路、冯德伸、姚康、刘新军、韦圣林、黄洪伟文、马会超、普世坤、郭荣贵、向清华

本标准规定了锗单晶位错密度的测试方法。本标准适用于｛111}、｛100｝和｛013｝面锗单晶位错密度的测试，测试范围为0cm-2~100000cm-2。