工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 5：Determination of impurity contents―X-ray fluorescence method
标准状态
发布于：2014-12-05
实施于：2015-05-01
废止
基本信息
GB/T 14849.5-2014
现行
2014-12-05
2015-05-01
中国有色金属工业协会
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
中国有色金属工业协会
GB/T 14849.5-2010
昆明冶金研究院、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务有限公司、蓝星硅材料有限公司、云南出入境检验检疫局、中国铝业股份有限公司山东分公司、中国铝业股份有限公司郑州研究院、包头铝业有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司
刘英波、赵德平、杨毅、杨海岸、周杰
标准简介
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。 本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，测定范围见表1。
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