厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content

GB/T 17473.1-1998已废止国家标准

标准状态

发布于：1998-08-19

实施于：1999-03-01

已废止

标准号GB/T 17473.1-1998

标准状态已废止

发布日期1998-08-19

实施日期1999-03-01

中国标准分类号H15 贵金属及其合金分析方法

国际标准分类号77.040.01 金属材料试验综合

主管部门中国有色金属工业协会

技术归口全国有色金属标准化技术委员会

起草单位昆明贵金属研究所