微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定
Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
标准状态
发布于：2020-03-06
实施于：2021-02-01
废止
基本信息
GB/T 38532-2020
现行
2020-03-06
2021-02-01
国家标准委
国家标准委
中国宝武钢铁集团有限公司、中国科学院上海硅酸盐研究所、上海发电设备成套设计研究院
姚雷、张作贵、曾毅、郑芳
标准简介
本标准规定了用电子背散射衍射法（EBSD）对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法，包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求。 注1：使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受，与其相比，EBSD具有很多技术优势，如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。 注2：该方法还可用于一些复杂材料（如双相材料）的晶粒尺寸测量。 注3：对变形程度较大的试样进行分析时，需谨慎处理结果。
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