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碳化硅单晶晶型的测试方法

SJ/T 11501-2015现行行业标准

标准状态

发布于:2015-04-30
实施于:2015-10-01
废止

基本信息

SJ/T 11501-2015
现行
2015-04-30
2015-10-01
H83 化合物半导体材料
29.045 半导体材料
工业和信息化部
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
中国电子科技集团公司第四十六研究所、工业和信息化部电子工业标准化研究院
丁丽、郝建民、周智慧 等

标准简介

本标准规定了利用拉曼光谱定碳化硅单晶结晶类的方法。 本标准适用于碳化硅单晶晶型的测定。

内容预览

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