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砷化镓晶片热稳定性的试验方法

SJ/T 11497-2015现行行业标准

标准状态

发布于:2015-04-30
实施于:2015-10-01
废止

基本信息

SJ/T 11497-2015
现行
2015-04-30
2015-10-01
H83 化合物半导体材料
29.045 半导体材料
工业和信息化部
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司等
何秀坤、董彦辉、刘兵 等

标准简介

本标准规定了半绝缘砷化镓(GaAs)热稳定性的试验方法。 本标准适用于电阻率在10∧4Ω·cm~10∧9Ω·cm范围半绝缘砷化镓单晶材料的热稳定性试验。

内容预览

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