砷化镓晶片热稳定性的试验方法
标准状态
发布于:2015-04-30
实施于:2015-10-01
废止
基本信息
SJ/T 11497-2015
现行
2015-04-30
2015-10-01
工业和信息化部
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司等
何秀坤、董彦辉、刘兵 等
标准简介
本标准规定了半绝缘砷化镓(GaAs)热稳定性的试验方法。 本标准适用于电阻率在10∧4Ω·cm~10∧9Ω·cm范围半绝缘砷化镓单晶材料的热稳定性试验。