电子器件用纯银钎料中杂质含量 铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES 测试方法
标准状态
发布于:2015-10-10
实施于:2016-04-01
废止
基本信息
SJ/T 11011-2015
现行
2015-10-10
2016-04-01
工业和信息化部
全国印制电路标准化技术委员会
SJ/T 11011-1996;SJ/T 11012-1996;SJ/T 11013-1996;SJ/T 11014-1996;SJ/T 11015-1996;SJ/T 11016-1996;SJ/T 11017-1996;SJ/T 11019-1996
信息产业专用材料质量监督检验中心、中国电科第四十六研究所、工业和信息化部电子工业标准化研究院等
王奕、褚连青、张理 等
标准简介
本标准规定了采用ICP-AES测定电子器件用纯银钎料中铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑和磷的测试方法。本标准适用于电子器件用纯银钎料中铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑和磷的测定。