IP核可测试性设计指南
标准状态
发布于：2018-02-09
实施于：2018-04-01
废止
基本信息
SJ/T 11699-2018
现行
2018-02-09
2018-04-01
工业和信息化部
全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
哈尔滨工业大学、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部软件与集成电路促进中心等
王永生、肖立伊、付方发 等
标准简介
本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构，对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。 本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。
内容预览
