半导体光电二极管和光电晶体管测试方法

SJ/T 2214-2015现行行业标准

标准状态

发布于：2015-04-30

实施于：2015-10-01

废止

标准号SJ/T 2214-2015

标准状态现行

发布日期2015-04-30

实施日期2015-10-01

中国标准分类号L54 半导体光敏器件

国际标准分类号31.080 半导体分立器件

发布部门工业和信息化部

技术归口工业和信息化部电子工业标准化研究院

代替标准SJ/T 2214.1～ 2214.10-1982

起草单位中电子科技集团公第四十四研究所

起草人郭萍、王波、崔大键

本标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管（以下简称“器件”）光电参数的测试方法。本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。本标准不适用PIN、雪崩光电二极管的测试。