半导体光电耦合器测试方法
标准状态
发布于：2015-04-30
实施于：2015-10-01
废止
基本信息
SJ/T 2215-2015
现行
2015-04-30
2015-10-01
31.080.1
工业和信息化部
工业和信息化部电子工业标准化研究院
SJ/T 2215.1～ 2215.14-1982
中电子科技集团公第四十四研究所
马思华、欧熠、陈春霞 等
标准简介
本标准规定了半导体光电合器（以下简称“器件”）的测试方法。 本标准适用于半导体光电合器。
内容预览
本标准规定了半导体光电合器（以下简称“器件”）的测试方法。 本标准适用于半导体光电合器。