太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法
标准状态
发布于：2016-04-05
实施于：2016-09-01
废止
基本信息
SJ/T 11632-2016
现行
2016-04-05
2016-09-01
工业和信息化部
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司等
熊伟、贺东江、卫国军 等
标准简介
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)微裂纹缺陷的测试方法。 本标准适用于太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试，也可适用于硅片裂纹、杂质和孔洞缺陷的测试。在采用本标准提供的测试方法测试其他类型的样前，需由供需双方协商。
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