半导体红外发射二极管测量方法第1部分：总则

SJ/T 2658.1-2015现行行业标准

标准状态

发布于：2015-10-10

实施于：2016-04-01

废止

标准号SJ/T 2658.1-2015

标准状态现行

发布日期2015-10-10

实施日期2016-04-01

中国标准分类号L53 半导体发光器件

国际标准分类号31.080 半导体分立器件

发布部门工业和信息化部

技术归口工业和信息化部电子工业标准化研究院

代替标准SJ/T 2658.1-1986

起草单位工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人张戈、赵英

本部分规规定了对半导体红外发射二极管进行光电参数测量的一般要求，包括测试仪表的误差范围、电源的性能要求以及测试环境条件。