半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理

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标准简介

SJ/T 10803-1996.General principles of measuring me thodsofline circuits for semiconductor interface integrated circuits. SJ/T 10803规定了半导体集成接口电路线电路(以下简称器件)静态特性和动态特性测试方法的基本原理。 若无特殊说明，本标准涉及的逻辑均为正逻辑。 1总的要求 1.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。 1.2测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。 1.3测试期间,施于被测器件的电源电压误差应在规定值的土1 %以内;施于被测器件的其他电参量的精度应符合器件详细规范的规定。 1.4被测器件 与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。 1.5除了被测器件的功能是由特性测试来证实外，在静态特性测试和动态特性测试前应进行功能测试。 1.6被测器件有内部存储或滞后现象时，测试前应有预置位周期。 2静态参数测试 2.1输人钳位电压V IK 2.1.1定义 输人端在抽出规定电流时的电压。 2.1.2测试原理图 VIK的测试原理图如图1所示。. 2.2.1定义 在规定的参考电压下，使输出端为高电平电压V oH或低电平电压V oL时,差分输入端所施加的阈值电压。 2.2.2测试原理图 V τ的测试原理图如图2所示。

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