半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理

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标准简介

SJ/T 10802-1996.General principles of measuring methods of peripheral drivers for se miconduc tor Interface integrated circuits. SJ/T 10802规定了半导体集成接口电路外围驱动器(以下简称器件)静态特性和动态特性测试方法的基本原理。 若无特殊说明，本标准涉及的逻辑均为正逻辑。 1总的要求 1.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。 1.2测试期间,应避免外界F扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。 1.3测试期间,施于被测器件的电源电压误差应在规定值的土1%以内;施于被测器件的其他电参量的精度应符合器件详细规范的规定。 1.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。 1.5除了被测器件的功能是由特性测试来证实外，在静态特性测试和动态特性测试前应进行功能测试。 1.6被测器件有内部存储或滞后现象时，测试前应有预置位周期。 2静态特性测试 2.1输人钳位电压V IK 2.1.1定义 输人端在抽出规定电流时的电压。 2.1.2测试原理图 V IK的测试原理图如图1所示。 2.2.3测试条件 测试期间，下列测试条件 应符合器件详细规范的规定: a.环境温度T A3, b.电源电压V c.输人端条件; . d.输出端负载电流 IoH。 2.2.4测试程序 2.2.4.1在规定的环境温度T A下，将被测器件接人测试系统中。 2.2.4.2电源端施加规定的电压V 2.2.4.3输人端施加规定的条件。 2.2.4.4被测输出端抽出规定的负载电流JoH3其余输出端开路。 2.2.4.5在被测输出端测得V OH。

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