半导体分立器件CS3821、3822、3823型场效应晶体管详细规范
标准状态
发布于：1992-11-19
实施于：1993-05-01
废止
基本信息
SJ 20184-1992
现行
1992-11-19
1993-05-01
中国电子工业总公司
中国电子技术标准化研究所
中国电子技术标准化研究所和国营七四六厂
王长富、张宗国、吴志龙、刘美英
标准简介
SJ 20184-1992.Semiconductor discrete device Detail specification for field-effect transistor of types CS3821,3822,3823. 1范围 1.1主题内容 SJ 20184规定了CS3821、CS3822和CS3823型硅N沟道结型场效应晶体管(以下简称器件)的详细要求。该种器件按GJB33《半导体分立器件总规范》的规定,提供产品保证的三个等级(GP、GT和GCT级)。 1.2外形尺寸 外形尺寸应符合GB 7581《半导体分立器件外形尺寸》中的A4-01B型及如下规定,见图1。 2引用文件 GB 4586- -84场效应晶体管测试方法 GB 7581-87半导体分立器件外形尺寸 GJB 33- -85半导体分立器件总规范 GJB 128-86半导体分立器件试验方法 3要求 3.1详细要求 各项要求应按GJB33和本规范的规定。 3.2设计结构和外形尺寸 器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33和本规范的规定。 3.2.1引出端材料和涂层 引出端材料应为柯伐或52号合金。引出端表面涂层应为镀金、镀锡或浸锡。对引出端材料和涂层要求选择或另有要求时,在合同或订单中应明确规定(见6)。 3.3 标志 器件的标志应按GJB 33的规定。 4质量保证规定 4.1抽样和检验 抽样和检验应按GJB33和本规范的规定。 4.2鉴定检验 鉴定检验应按GJB33的规定。 4.3筛选(仅对GT和GCT级) 筛选应按GJB 33表2和本规范的规定。下列测试应按本规范表1进行,超过规定极限值的器件不应接收。
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