CTK4104型有可靠性指标的非密封多层片状瓷介固定电容器详细规范

标准状态

基本信息

标准简介

SJ 20314-1993.Detail specification capacitors ,chip . multiple layer,fixed ,unencapsulated ,ceramic dielectric ,established reliability type CTK4104. 1主题内容和适用范围 1.1主题内容 SJ 20314规定了CTK4104型有可靠性指标的非密封多层片状瓷介固定电容器的适用范围、外形结构、尺寸、主要参数和要求。 1.2适用范围 SJ 20314适用于在电路中作旁路、耦合或对于损耗和电容量稳定性要求不高的电路中使用的多层片状瓷介固定电容器。 SJ 20314规定的电容器的完整要求由本规范和总规范GJB192组成。 2引用文件 GJB 192--86有可靠性指标的非密封多层片状瓷介固定电容器总规范; GB 2471--81电子设备用电阻器的标称阻值系列和固定电容器的标称电容量系列及其允许偏差 3要求 3.1结构 非密封、无引线。 3.2尺寸和主要参数 见下图和表1. 3.5 额定电压 见表1。 3.6额定温度和电压温度极限 BX。 3.7工作温度范围 - 55~ 125C。 3.8失效 率等级 W.L、Q.B。 3.8引出端的涂覆层 3.9标志 按GJB 192的规定。 4质量保证规定 见GJB 192第3章 5交货准备 见GJB 192第4章。 6.说明 见GJB 192第5章。 附加说明: 本规范由机械电子工业部提出。 本规范由电子工业部标准化研究所起草。 计划项目代号: B92002。

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