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半导体集成电路JT54LS13、JT54I S14和JT54LS132型LS-TTL与非门详细规范

SJ 20281-1993现行行业标准

标准状态

发布于:1993-05-11
实施于:1993-07-01
废止

基本信息

SJ 20281-1993
现行
1993-05-11
1993-07-01
L55 微电路综合
电子工业部
中国电子工业总公司科技质量局
电子工业部第四研究所
胡燕、童本敏

标准简介

SJ 20281-1993.Detail specification for types JT54LS13, JT54LS14, and JT54L S132 positive-NAND gates of LS-TTL secmicondudtor circuits. 1范围 1.1主题内容 SJ 20281规定了半导体集成电路JT54LS13.JT54LS14和JT54LS132型LS-TTL与非门(有施密特触发器)(以下简称器件)的详细要求。 1.2 适用规范 SJ 20281适用于器件的研制、生产和采购。 1.3分类 SJ 20281给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。 1.3.1器件编号 器件编号应按GJB 597第3.6.2条的规定。. 1.3.1.1器件型号 器件型号如下: 器件型号 器件名称 JT54LSI3 双4输入与非门(有施密特触发器) JT54LS14 六反相器(有施密特触发器) JT54LS132 四2输入与非门(有施密特触发器) 1.3.1.2 器件等级 器件等级应为GJB 597第3.4条规定的B级和本规范规定的B,级。 1.3.1.3 封装形式 封装形式如下: 2引用文件 GB 3431.1-82半导体集成电路文字符号 电参数文字符号 GB 3431.2-86半导体集成电路文字符号引出 端功能符号 GB 3439- -82半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 GB 4590- -84半导体集成电路机械和气候试验方法 GB 4728.12-85电气图用图形符号二进制逻辑单元 GB 7092- -93半导体集成电路外形尺寸 GJB 548- -88微电子器件试验方法和程序 GJB 597- -88微电路总规范 GJB 1649- -93电子产品防静电放电控制大纲 3要求 3.1详細要求 各项要求应按GJB 597和本规范的规定。 3.2设计 、结构和外形尺寸 设计、结构和外形尺寸应符合G]B 597和本规范的规定。 3.2.1逻辑符 号逻辑图和引出端排列 逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。

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