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材料屏蔽效能的测量方法

SJ 20524-1995现行行业标准

标准状态

发布于:1995-05-25
实施于:1995-12-01
废止

基本信息

SJ 20524-1995
现行
1995-05-25
1995-12-01
L90 电子技术专用材料
31.030 电子技术专用材料

标准简介

SJ 20524-1995.Measuring methods for shielding effectiveness of materials. ↑范围 1.1主题内容 SJ 20524规定了非导电材料表面涂或镜层、金属网、导电薄膜、导电玻璃、导电介质板等平板型电磁屏蔽材料对于平面波屏蔽效能的测量方法。 1.2适用范围 SJ 20524适用于金属薄板、非导电材料表面涂或镀层、金属网、导电薄膜、导电玻璃、导电介质板等平板型电磁屏蔽材料对于平面波的屏蔽效能的测量。 2引用文件 GB 6113--85电磁干扰测量仪 GJB 72-85电磁干扰和电磁兼容性名词术语 GJB/Z 25-90电子设备和设施的接地、搭接和屏蔽设计指南 3定义 除本标准规定的术语外,其他术语符合GJB 72。 3.1屏蔽效能( SE)shielding effectiveness 在同一激励电平下,有屏蔽材料与无屏蔽材料时所接收到的功率或电压之比,并以对数表示。即: 5详细要求 本标准规定的方法中,所用测量设备的核心部分是4.2.3条叙述的法兰同轴测试装置。该同轴装置内的电场与磁场相互正交,且垂直于电磁波的传播方向,相当于空间的平面电磁波,因此测量结果是试样对垂直入射平面波的屏蔽效能,(见图2);对材料近区磁场的测量方法,参见附录A(参考件)。

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