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压电陶瓷材科体积电阻率ρV测量方法

CB/Z 166-1979现行行业标准

标准状态

发布于:1979-10-15
实施于:1979-10-15
废止

基本信息

CB/Z 166-1979
现行
1979-10-15
1979-10-15
L90 电子技术专用材料
29.045 半导体材料

标准简介

CB/Z 166-79.1.试样尺寸及要求:(1)试样尺寸:φ(15~20)X(5~10)mm。(2)试样要求:在两个主平面上被覆全电极,不极化。试样要清洁、千燥。,2.测量原理:由( 2)式可知,logPy与1/T 成线性关系,因此根据logPv - 1/T曲线,即可确定任一温度下的体积电阻率Py。压电陶瓷的体积电阻率也和电场有关,当电场强度比较大时,体积电阻率有所下降,因而测量时所用的电场强度不宜过大。3.测量方法:两电极直流法,测量电场强度不大于100V / mm。4.测量装置:测量装置示意图,对装置的要求如下:( 1)绝缘套管、绝缘底板的材料为氧化铝或聚四氟乙烯;(2)上、下电极(银或不锈钢)的引线与系统的绝缘电阻不低于1 X 1048;(3)烘箱一300°C;( 4)温度计一0 ~ 300°C, 精度1°C;(5)高阻计一测量范围106~ 1018 8;(6)万用表一电阻档的测量上限不低于105 S2。5.测量步骤:(1)将试样置于上下电极之间,然后将烘箱自然升温至300°C;(2)从300C开始降温,逐点测量,测量点不少于10个;(3)在每一测量温度下,保温时间不少于半小时,然后加上电压, 1分钟时读出试样的电阻值。6.按(1)式计算ρv,然后画出l0gPv-1/T曲线,由该曲线即可确定某-温度下的体积电阻率。.

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