CMOS集成电路抗辐射加固设计要求

Design requirements of radiation hardening for CMOS IC

GB/T 41033-2021现行国家标准

标准状态

发布于：2021-12-31

实施于：2022-07-01

废止

标准号GB/T 41033-2021

标准状态现行

发布日期2021-12-31

实施日期2022-07-01

中国标准分类号V29 航天用液压元件与附件

国际标准分类号49.035 航空航天制造用零部件

主管部门国家标准委

发布部门国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口国家标准委

起草单位中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所

起草人刘智、葛梅、岳红菊、于洪波、耿增建、胡巧玉、谢成民、王斌、姚思远、李海松

本文件规定了CMOS集成电路抗辐射（总剂量、单粒子）加固设计的流程、设计要求、建模仿真、验证试验要求。本文件适用于基于体硅/SOI CMOS工艺的数字集成电路、模拟集成电路和数模混合集成电路的抗辐射（总剂量、单粒子）加固设计。