半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
标准状态
发布于：1992-12-17
实施于：1993-08-01
废止
基本信息
标准简介
本标准规定了半导体集成电路时基电路（以下简称器件或时基电路）电参数测试方法的基本原理
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General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
本标准规定了半导体集成电路时基电路（以下简称器件或时基电路）电参数测试方法的基本原理