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毫米波频段材料介电性能测试 开放式半球型谐振腔法

Measurement of dielectric properties of materials in millimeter wave frequency—Hemispherical type open resonator method

T/CSTM 00750-2022现行团体标准

标准状态

发布于:2022-04-19
实施于:2022-07-19
废止

基本信息

T/CSTM 00750-2022
现行
2022-04-19
2022-07-19
L90 电子技术专用材料
31.020 电子元器件综合
中关村材料试验技术联盟
中关村材料试验技术联盟
山东国瓷功能材料股份有限公司、中国计量科学研究院
宋锡滨、任玲玲、朱恒、孙莹莹、艾辽东、奚洪亮、李硕、杨宏伟、邢晶、余承勇、贺光辉、何骁、孙朝宁

标准简介

本文件规定了使用开放式半球型谐振腔法测试频率在20GHz~60GHz范围内的无机材料、复合板材、工程塑料等材料的相对介电常数实部和损耗角正切值的测量方法。其中,相对介电常数实部的测量范围为2~30,损耗角正切值的测量范围为0.05~0.0001。 本文件适用于氧化硅、氧化铝、氮化铝、氧化锆、氮化硼等无机材料,聚四氟乙烯填充二氧化钛等有机/无机复合板材,聚醚醚酮、聚苯乙烯等有机工程塑料的相对介电常数实部和损耗角正切值的测量,也适用于其他类似固体电介质、复合板材、工程塑料材料及其薄膜的相对介电常数实部和损耗角正切值的测量。

内容预览

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