晶体管低频噪声参数测试方法
标准状态
发布于：2020-12-09
实施于：2021-04-01
废止
基本信息
SJ/T 11765-2020
现行
2020-12-09
2021-04-01
工业和信息化部
基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等
罗宏伟、胡为、王小强 等
标准简介
适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行
内容预览
适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行