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微波介质基片复介电常数带状线测试方法

Stripline test method for complexpermittivity of microwave dielectric substrates

GB/T 12636-1990现行国家标准

标准状态

发布于:1990-12-28
实施于:1991-10-01
废止

基本信息

GB/T 12636-1990
现行
1990-12-28
1991-10-01
L04 基础标准与通用方法
工业和信息化部(电子)
国家技术监督局
工业和信息化部(电子)
电子科技大学

标准简介

本标准规定了微波介质基片复介电常数的带状线测试方法。 本标准适用于测试各种基片(如塑料、复合材料、陶瓷、硅酸盐和其他单晶体材料等)在微波频率下的复介电常数。 测试频率范围:f=1~20GHz 测试介电常数范围:ε'=2~25 测试损耗角正切范围:tanδ=5×10~1×10

内容预览

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