声表面波器件用单晶晶片
Single crystal wafers for surface acoustic wave device applications
标准状态
发布于：2018-08-31
实施于：2018-09-30
废止
基本信息
T/ZZB 0497-2018
现行
2018-08-31
2018-09-30
浙江省品牌建设联合会
浙江省品牌建设联合会
中电科技德清华莹电子有限公司、浙江方圆检测集团股份有限公司、中国电科第二十六研究所、北京航天微电科技有限公司
卢明达、黄顺民、李勇、岳高东、崔坤、贝伟斌、胡少勤、史向龙、杭州明、杨攀、朱卫俊、宋松、林毅、施旭霞
标准简介
本标准规定了单晶晶片的术语和定义、基本要求、产品要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和储存、质量承诺。 本标准适用于人造石英（QZ）、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)器件的基片材料。
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