表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法
Surface chemical analysis—Atomic force microscopy—Test method for thickness of the two-dimensional layered molybdenum disulfide nanosheets
标准状态
发布于：2021-05-21
实施于：2021-12-01
废止
基本信息
GB/T 40128-2021
现行
2021-05-21
2021-12-01
中国科学院
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
中国科学院
国家纳米科学中心、上海市计量测试技术研究院、上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司、北京粉体技术协会
朱晓阳、朱君、蔡潇雨、周素红、常怀秋、齐笑迎
标准简介
本文件规定了利用原子力显微术测量层状二硫化钼纳米片厚度的测量方法。 本文件适用于转移或生长在固体衬底表面的层状二硫化钼纳米片厚度的测量，测量范围从单层二硫化钼纳米片至厚度不大于100nm，其他类似的纳米片层材料厚度测量也可参照此方法进行。
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